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Text File  |  1993-05-03  |  3KB  |  56 lines
  1. PUBLIC INFORMATION OFFICE
  2. JET PROPULSION LABORATORY
  3. CALIFORNIA INSTITUTE OF TECHNOLOGY
  4. NATIONAL AERONAUTICS AND SPACE ADMINISTRATION
  5. PASADENA, CALIF. 91109. (818) 354-5011
  6.  
  7.  
  8.  
  9. FOR IMMEDIATE RELEASEMay 1, 1989 
  10.  
  11.         
  12.         Physicists at the Jet Propulsion Laboratory have
  13. developed a new technique that allows them to "see" how electrons
  14. behave in a structure, and their invention may do for the science
  15. of electronic devices what the early microscope did for biology. 
  16.         The technique is called ballistic-electron-emission
  17. microscopy (BEEM) and for the first time it enables scientists to
  18. see below the surface of a structure to a semiconductor interface
  19. and discover what happens when electrons pass through that
  20. boundary.   BEEM allows for nanometer-resolution imaging which
  21. enables scientists to look at a region that covers only 20 atoms. 
  22. Using BEEM, scientists can identify microscopic defects that
  23. occur at a subsurface level.
  24.         "We apply BEEM as a diagnostic tool to look at
  25. semiconductors and to understand defect formation and then
  26. develop fabrication techniques for the production of defect-free
  27. devices," said Dr. William Kaiser, a JPL solid-state physicist
  28. who helped pioneer the technique with Dr. L. Douglas Bell and Dr.
  29. Michael H. Hecht.
  30.         BEEM uses the scanning tunneling microscope (STM) to
  31. inject a highly localized electron current into a device
  32. structure.  In recent experiments the JPL group used BEEM to look
  33. at the interface between gold and gallium arsenide.   With BEEM,
  34.  
  35. scientists saw reactions take place that they hadn't known about
  36. before.   They observed that gallium arsenide actually decomposed
  37. and reacted with gold when an electric current was passed through
  38. the semiconductor.   "For the first time we can understand what
  39. affects electron transport through interfaces.   It allows us to
  40. do things we've never done before," Kaiser said.
  41.         BEEM is revolutionary because it gives scientists the
  42. tool to see the fundamental properties of a structure that they
  43. couldn't measure and couldn't see before, the team noted.
  44.         "One of our goals is to understand the development of
  45. the electronic properties of a material one atomic layer at a
  46. time," Kaiser said.
  47.         Ultimately, BEEM will lead to better transistors and
  48. detectors and the development of high-speed, reliable, space-
  49. qualified microelectronics that can be used on future space
  50. probes.
  51.         BEEM is a development of JPL's Center for Space
  52. Microelectronics Technology (CSMT) and is sponsored by the
  53. Innovative Science and Technology Office of the Strategic Defense
  54. Initiative Organization and the Office of Naval Research.
  55. #####
  56. #1238  5/1/89 mah